我司生產(chǎn)的可靠性環(huán)境試驗設備在LED行業(yè)應用非常廣泛，在從事業(yè)務過程中，常常會接到客戶說：“我們是LED行業(yè)的，你幫我推薦些試驗設備吧"。那么LED行業(yè)到底需要哪些設備呢？

LED在實際使用中，由于復雜的環(huán)境以及封裝工藝局限性從而使封裝材料退化、熒光粉退化、金屬電遷移、局部溫度過高產(chǎn)生的熱應力所引起的芯片和硅膠的分層或金線斷裂等等，從而影響LED發(fā)光甚至導致整個LED的失效。而且LED產(chǎn)生的高溫會導致芯片的發(fā)光效率降低，光衰加快、色移等嚴重后果。

 LED照明系統(tǒng)中的典型失效模態(tài)

由于LED壽命長，通常采取加速環(huán)境試驗的方法進行可靠性測試與評估。加速度測試將會模仿燈具的應用條件或用戶要求，這樣可以更有效地研究各種破壞機理，提供大量數(shù)據(jù)去研究LED的結構、材料、工藝從而更好完善LED產(chǎn)品。一些典型的加速可靠性試驗。

應用于LED照明系統(tǒng)的典型加速可靠性實驗

    然而，加速老化試驗只是研究問題的一個方面，對LED壽命的預測機理和方法的研究仍是有待研究的難題?，F(xiàn)在的LED技術面臨著巨大的挑戰(zhàn)和機遇。企業(yè)的目標主要是保證產(chǎn)品長期的可靠性，例如，根據(jù)產(chǎn)品不同，LED應用的范圍壽命從7000小時到50000～100000小時不等。這對于一個電子企業(yè)是有相當挑戰(zhàn)性的，因為他們的電子產(chǎn)品現(xiàn)在只有2-3年壽命。對于50000～100000小時的SSL系統(tǒng)（包括電源驅動），有必要進行可靠性設計，以符合產(chǎn)品的高要求。

　　目前，如何通過加速老化試驗準確地預測LED產(chǎn)品的可靠性還是相當有挑戰(zhàn)性的。對于LED產(chǎn)品的長期可靠性，應當關注如何建立用加速試驗來反映產(chǎn)品中出現(xiàn)的問題。對于了解和預測宏觀系統(tǒng)的可靠性，可測性非常具有挑戰(zhàn)性，主要是因為可靠性是一個多學科的問題，并且涉及到材料、設計、制造工藝、試驗和應用條件。因此，有必要開發(fā)LED燈和燈具的加速試驗以及戶外照明燈具性能測試實驗，從而可以有效地研究關于LED的各種破壞機理。

飛利浦公司目前致力于研究可靠性測試標準，從而深入了解LED以及電源驅動的失效機理。去年年底已經(jīng)在我司訂制了一臺快速升降溫的試驗箱。

為此，LED行業(yè)需要用到恒溫恒濕試驗箱，高低溫試驗箱，快速溫變試驗箱，高低溫沖擊試驗箱，電磁振動試驗臺，模擬運輸振動試驗臺，淋雨試驗箱，砂塵試驗箱等，我們公司可以成套銷售，為您解決一站式服務，歡迎前來公司實地考察，咨詢。