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超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
簡(jiǎn)要描述：超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。
產(chǎn)品型號(hào)：QS-710- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-12-12
- 訪 問(wèn) 量：4534
詳情介紹
超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)工作原理
1，試驗(yàn)機(jī)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住，形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔，試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流，使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn)；
2，可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件，將其隔離出來(lái)單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比，溫變變化沖擊速率更快
超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
1．GB/T 2423.1-2008試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
2．GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
3．GB/T2423.22-2012試驗(yàn)N: 溫度變化試驗(yàn)方法
4. GJB/150.3-2009高溫試驗(yàn)
5. GJB/150.4-2009低溫試驗(yàn)
6. GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗(yàn)/快速降溫儀
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